產品性能

PLD-MPCS系列顯微鏡顆粒分析系統直觀、形象、準確、測試范圍寬以及自動識別、自動統計、自動標定等特點；

正偏光顯微測試可以準確判別顆粒的金屬非金屬特性；

避免激光法的產品缺陷，擴展檢測范圍；

現實NAS、ISO等國際標準方法的認可；

屬于科研級別的新型的粒度測試手段。

技術參數

PLD-MPCS系列顯微鏡顆粒分析系統自動分割速度：< 1秒分割成功率：> 93%測試范圍: 1-500μm系統放大倍數：40～l000X倍

zui大分辨率：0.1μm顯微鏡誤差：0.02（不包含樣品制備因素造成的誤差）

重復性誤差：< 5%（不包含樣品制備因素造成的誤差）

數字攝像頭(CCD)：300萬像素

標尺刻度：0.1μm

分析項目：粒度分布、長徑分布、圓形度分布等

軟件運行環境：Windows 2000、Windows XP

接口方式：RS232或USB方式

基本配置

PLD-MPCS系列顯微鏡顆粒分析系統正置式偏振光光學顯微鏡

數字500萬級別以上的CCD攝像頭

全自動0.1微米級別的載物臺

圖像處理與分析軟件

電腦和打印機

等部分組成；

將傳統的顯微測量方法與現代的圖像處理技術結合的產物；

專用數字攝像機將顯微鏡的圖像拍攝及掃描；

R232接口數據傳輸方式將顆粒圖像傳輸到分析系統；

顆粒圖像分析軟件及平臺對圖像進行處理與分析；

顯示器及打印機輸出分析結果。

常見問題

1.PLD-MPCS系列顯微鏡顆粒分析系統的技術參數有哪些？

自動分割速度：< 1秒分割成功率：> 93%測試范圍: 1-500μm系統放大倍數：40～l000X倍

zui大分辨率：0.1μm顯微鏡誤差：0.02（不包含樣品制備因素造成的誤差）

重復性誤差：< 5%（不包含樣品制備因素造成的誤差）

數字攝像頭(CCD)：300萬像素

標尺刻度：0.1μm

分析項目：粒度分布、長徑分布、圓形度分布等

軟件運行環境：Windows 2000、Windows XP

接口方式：RS232或USB方式